2024年EMC測(cè)試新增標(biāo)準(zhǔn)主要有哪些？EMC測(cè)試是為了評(píng)估設(shè)備在電磁環(huán)境中的性能和互操作性而進(jìn)行的測(cè)試。我司環(huán)測(cè)威檢測(cè)是專業(yè)第三方EMC測(cè)試機(jī)構(gòu)，具備EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室和擁有豐富的EMC測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可為電子電氣產(chǎn)品提供專業(yè)電磁兼容EMC測(cè)試、EMC摸底測(cè)試等服務(wù)。
全部代替GB/T 17626.3-2016《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第3部分：射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)》
標(biāo)準(zhǔn)類型：基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)；
發(fā)布日期：2023.12.28；
實(shí)施日期：2024.07.01；
等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：電磁兼容（EMC）第4-3部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)。
全部代替GB/T 17626.30-2012《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第30部分：電能質(zhì)量測(cè)量方法》
標(biāo)準(zhǔn)類別：方法標(biāo)準(zhǔn)；
發(fā)布日期：2023.12.28；
實(shí)施日期：2024.07.01；
修改采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC61000-4-30:2021《電磁兼容（EMC）第4-30部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第30部分：電能質(zhì)量測(cè)量方法》。
標(biāo)準(zhǔn)類別：基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，新標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布日期：2023.12.28；
實(shí)施日期：2024.07.01；
等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC61000-4-39:2017《電磁兼容（EMC）第4-39部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第39部分：近距離輻射場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)》。
全部代替GB 17799.3-2012《電磁兼容 通用標(biāo)準(zhǔn)居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中的發(fā)射》；
標(biāo)準(zhǔn)類別：通用標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布日期：2023.12.28；
實(shí)施日期：2024.07.01；
等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC61000-6-3：2020《電磁兼容 第6-3部分：居住環(huán)境中設(shè)備的發(fā)射》。
標(biāo)準(zhǔn)類別：通用標(biāo)準(zhǔn)，新標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布日期：2023.12.28；
實(shí)施日期：2024.07.01；
等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC61000-6-8：2020《電磁兼容 第6-8部分：通用標(biāo)準(zhǔn) 商業(yè)和輕工業(yè)場(chǎng)所專業(yè)設(shè)備的發(fā)射》。
標(biāo)準(zhǔn)類別：基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，新標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布日期：2023.12.28；
實(shí)施日期：2024.07.01；
等同采用IEC國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：IEC TR 61000-1-7:2016《電磁兼容（EMC）第1-7部分 綜述 非正弦條件下單相系統(tǒng)的功率因素》。
1. 準(zhǔn)備測(cè)試計(jì)劃：制定詳細(xì)的測(cè)試計(jì)劃，包括測(cè)試的目的、范圍、測(cè)試方法、測(cè)試場(chǎng)景、測(cè)試設(shè)備和測(cè)試參數(shù)等。
2. 確定測(cè)試環(huán)境：根據(jù)測(cè)試計(jì)劃，選擇合適的測(cè)試環(huán)境，模擬設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景中可能面臨的電磁環(huán)境條件。考慮電磁輻射源、電源質(zhì)量、接地情況等因素。
3. 準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備：根據(jù)測(cè)試計(jì)劃，準(zhǔn)備所需的測(cè)試設(shè)備，包括發(fā)射機(jī)、接收機(jī)、天線、信號(hào)發(fā)生器、頻譜分析儀等。確保這些設(shè)備在測(cè)試前經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)和驗(yàn)證，并處于良好狀態(tài)。
4. 進(jìn)行測(cè)試：按照測(cè)試計(jì)劃中定義的測(cè)試方法和參數(shù)，開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。這可能包括輻射測(cè)試、感應(yīng)測(cè)試和傳導(dǎo)測(cè)試。
5. 記錄測(cè)試數(shù)據(jù)：在測(cè)試過(guò)程中詳細(xì)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)和觀察結(jié)果。包括測(cè)量結(jié)果、測(cè)試條件、測(cè)試設(shè)備和測(cè)試場(chǎng)景的說(shuō)明，以及任何觀察到的異常情況或問(wèn)題。
6. 分析測(cè)試結(jié)果：根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)和觀察結(jié)果，分析設(shè)備在電磁環(huán)境中的性能和互操作性。比較測(cè)試結(jié)果與適用的EMC標(biāo)準(zhǔn)或要求，并評(píng)估設(shè)備是否符合要求。
7. 編寫測(cè)試報(bào)告：根據(jù)測(cè)試結(jié)果編寫詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告。報(bào)告應(yīng)包括測(cè)試的目的、范圍、測(cè)試方法、測(cè)試結(jié)果、結(jié)論和建議等。提供支持?jǐn)?shù)據(jù)和圖表，確保報(bào)告清晰明了。
8. 實(shí)施改進(jìn)：如果測(cè)試結(jié)果顯示存在問(wèn)題，采取必要的措施進(jìn)行改進(jìn)。這可能包括調(diào)整設(shè)備設(shè)計(jì)、增加電磁屏蔽、優(yōu)化電源線布局等。
9. 追蹤和驗(yàn)證：在實(shí)施改進(jìn)后，進(jìn)行追蹤和驗(yàn)證測(cè)試，確保改進(jìn)措施的有效性。
