電器設(shè)備做臭氧老化測試需要注意什么？環(huán)測威小編來告訴你。在電子產(chǎn)品在加工過程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時可以使用，但在使用中缺陷會很快暴露出來，產(chǎn)品不能正常工作。潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗手段發(fā)現(xiàn)，而是運用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好，則未被剔除的潛在缺陷將最終在產(chǎn)品運行期間以早期失效（或故障）的形式表現(xiàn)出來，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加。所以很多電器設(shè)備都會做相對應(yīng)的老化測試。今天小編就帶大家一起來了解下臭氧老化測試。需要做臭氧老化測試歡迎來電4008-707-283聯(lián)系我司環(huán)測威檢測進(jìn)行辦理。
老化（Burn in）是指在一定的環(huán)境溫度下、較長的時間內(nèi)對元器件連續(xù)施加環(huán)境應(yīng)力，而環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）則不僅包括高溫應(yīng)力，還包括其他很多應(yīng)力，例如溫度循環(huán)、隨機振動等，通過電-熱應(yīng)力的綜合作用來加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程，促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。
老化是屬于環(huán)境應(yīng)力篩選的一種。
1.對于工藝制造過程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、硅片裂紋、氧化層缺陷和局部發(fā)熱點等都有較好的篩選效果。
2.對于無缺陷的元器件，老化也可促使其電參數(shù)穩(wěn)定。
主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 7762、GB/T 24134、GB/T 13642、HG/T 2869、JIS K 6259、ASTM D 1149。
主要考察橡膠耐臭氧性能（橡膠中含有大量雙鍵，容易受到臭氧攻擊，尤其是在動態(tài)使用或者是拉伸時，臭氧對橡膠的破壞更加嚴(yán)重），也可以考察TPU、EPDM等新型彈性體的抗臭氧性能。
為了使老化取得滿意的效果，應(yīng)注意下面幾點：
1、老化設(shè)備應(yīng)有良好的防自激振蕩措施。
2、給器件施加電壓時，要從零開始緩慢地增加，去電壓時也要緩慢地減小，否則電源電壓的突變所產(chǎn)生的瞬間脈沖可能會損傷器件。老化后要在標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范規(guī)定的時間內(nèi)及時測量，否則某些老化時超差的參數(shù)會恢復(fù)到原來的數(shù)值。
3、為保證晶體管能在最高結(jié)溫下老化，應(yīng)準(zhǔn)確測量晶體管熱阻。
對于集成電路來說，由于其工作電壓和工作電流都受到較大的限制，自身的結(jié)溫溫升很少，如不提高環(huán)境溫度很難達(dá)到有效地老化所需的溫度。因此，常溫靜態(tài)功率老化只在部分集成電路（線性電路和數(shù)字電路）中應(yīng)用。
