1、IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路(1992);
2、IEC60747-5-2半導(dǎo)體分立器件及集成電路零部件,5-2:光電子器件--分類特征及要素(1997-09);
3、IEC60747-5-3半導(dǎo)體分立器件及集成電路,5-3:光電子器件--測試方法(1997-08);
4、IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件,12-3:光電子器件-顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)(1998-02);
5、CIE127-1997LED測試方法(1997);
6、CIE/ISOLED強(qiáng)度測試標(biāo)準(zhǔn)。
國際照明委員會(CIE)1997年發(fā)表的CIE127-1997LED測試方法,把LED強(qiáng)度測試確定為平均強(qiáng)度的概念,并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小,為LED的準(zhǔn)確測試比對奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE127-1997測試方法并非國際標(biāo)準(zhǔn),但它容易實(shí)施準(zhǔn)確測試比對,目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展,許多新的LED技術(shù)特性在CIE127-1997LED測試方法中沒有涉及。
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